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dc.creator.IDCRUZ, A. F.pt_BR
dc.contributor.advisor1FIGUEIREDO, Jorge Cesar Abrantes de.-
dc.contributor.advisor1SAUVÉ, Jacques Philippe.-
dc.contributor.advisor1IDFIGUEIREDO, J. C. A.pt_BR
dc.contributor.advisor1IDSAUVÉ, J. P.-
dc.contributor.advisor1Latteshttp://lattes.cnpq.br/1424808046858622pt_BR
dc.contributor.advisor1Latteshttp://lattes.cnpq.br/9516359108766806-
dc.contributor.referee1ANDRADE, Wilkerson de Lucena.-
dc.contributor.referee2GURJÃO, Edmar Candeia.-
dc.description.resumoA norma IEC 61850 e o novo protocolo de comunicação para subestações elétricas, padronizando a troca de mensagens entre dispositivos eletrônicos inteligentes (Intelligent Electronic Device - IED). O meio de propagação de valores deixou de ser analógico (usando sinais elétricos) para ser digital (usando informações digitais: comandos, mensagens, etc), supervisionadas e controladas por um sistema de automação de subestação (SAS). A norma definiu um modelo de comunicação entre os IEDs para permitir que equipamentos de diferentes fabricantes possam trocar informação; sem a necessidade de um conversor de protocolos. Gerar os testes que contemplem a comunicação dos IEDs envolvidos numa subestação não e uma atividade trivial. Sistemas de automação de subestações possuem uma natureza concorrente - quando existem dois ou mais processos executados simultaneamente que disputam recursos do sistema. As diversas situações que podem ocorrer precisam ser testadas para garantir que o desempenho dos IEDs seja satisfatório. Foi desenvolvida uma estrategia baseada em Model-Based Testing de geração de casos de testes, a qual e aplicada em ambientes que utilizam a norma IEC 61850 baseandose na especificação de uma subestação elétrica e critérios de seleção de casos de testes. Os casos de testes gerados contemplam acoes desempenhadas pelos nos lógicos (Logical Node - LN) descritos na topologia de forma integrada. O estudo de caso utilizado para estes experimentos contem os principais nos lógicos (Logical Node - LN) envolvidos numa subestação 61850. O numero de casos de testes gerados depende da atual configuração da subestação. Para testes em LN isolados, o numero de casos de testes varia de 4 ate 30, e em componentes integrados, o numero de casos de testes pode chegar a 500.000 ou mais, exigindo uma ferramenta de seleção de casos de testes que permita estabelecer um critério de seleção.pt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.publisher.departmentCentro de Engenharia Elétrica e Informática - CEEIpt_BR
dc.publisher.programPÓS-GRADUAÇÃO EM CIÊNCIA DA COMPUTAÇÃOpt_BR
dc.publisher.initialsUFCGpt_BR
dc.subject.cnpqCiência da Computação-
dc.titleGeração automática de scripts de testes em ambiente 61850.pt_BR
dc.date.issued2011-11-30-
dc.description.abstractThe IEC 61850 is the new substation communication protocol; it provides standard input/output messages between intelligent Electronic Device - (IED). The electrical signals from the substation equipments were replaced by digital information, controlled and managed by a substation automation System - SAS. The 61850 protocol defines a communication model to allow IEDs from different vendors to interact with each other without a protocol conversor. To generate tests that contemplate the communication involving IEDs is a non trivial task. Substation automation Systems have a concurrent nature - messages can be sent or received at the same time. The many configurations that can occur need to be tested to grant a satisfying performance. It was created a technique based on Model-Based Testing for test generation used in environments using the 61850 standard, based on substation specification and tests selection criteria. The generated test cases contain actions executed by the LN described in topology in an integrated approach. The case study used for these experiments contains the main LN involved in a IEC 61850 substation. The number of generated test cases depends on the actual configuration of the substation. For isolated components, the test case number varies from 4 to 30.000, and using a integrated approach, the number can reach over 500.000, thus needing a tool for test selection criteria.pt_BR
dc.identifier.urihttp://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/11348-
dc.date.accessioned2020-01-29T18:38:50Z-
dc.date.available2020-01-29-
dc.date.available2020-01-29T18:38:50Z-
dc.typeDissertaçãopt_BR
dc.subjectGeração Automática - Testes-
dc.subjectGeração de Scripts-
dc.subjectTestes-
dc.subjectModel-Based Testing (MBT)-
dc.subjectAmbiente 61850-
dc.subjectSistema de Automação de Subestação (SAS)-
dc.subjectIntelligent Electronic Device (IED)-
dc.subjectAutomatic Generation - Tests-
dc.subjectGeneration of Scripts-
dc.subjectTests-
dc.subjectEnvironment 61850-
dc.subjectSubstation Automation System (SAS)-
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.creatorCRUZ, Alan de Farias.-
dc.publisherUniversidade Federal de Campina Grandept_BR
dc.languageporpt_BR
dc.title.alternativeAutomatic generation of test scripts in a 61850 environment.pt_BR
dc.identifier.citationCRUZ, Alan de Farias. Geração automática de scripts de testes em ambiente 61850. 121f. (Dissertação) Mestrado em Ciência da Computação, Programa de Pós-graduação em Ciência da Computação, Centro de Engenharia Elétrica e Informática, Universidade Federal de Campina Grande - Campina Grande - Paraíba - Brasil, 2011. Disponível em: http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/11348pt_BR
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