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http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17205| Title: | Filtros de amostragem na frequência no processo de identificação de sistemas. |
| Other Titles: | Frequency sampling filters in the system identification process. |
| ???metadata.dc.creator???: | VIEIRA, Isabela Sales. |
| ???metadata.dc.contributor.advisor1???: | BARROS, Péricles Rezende. |
| Keywords: | Identificação de sistemas;Frequency Sampling Filter;Modelo FSF - Frequency Sampling Filter;Sistemas de controle;Módulo Peltier;Processo de identificação de sistemas;Filtro de amostragem na frequência – modelo FSF;Systems identification;Control system;Peltier Module;System identification process;Frequency sampling filter - FSF model |
| Issue Date: | Nov-2005 |
| Publisher: | Universidade Federal de Campina Grande |
| Citation: | VIEIRA, Isabela Sales. Filtros de amostragem na frequência no processo de identificação de sistemas. 2005. 26f. (Trabalho de conclusão de Curso – Monografia), Curso de Bacharelado em Engenharia Elétrica, Centro de Engenharia Elétrica e Informática , Universidade Federal de Campina Grande – Paraíba Brasil, 2010. Disponível em: http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17205 |
| ???metadata.dc.description.resumo???: | O objetivo deste trabalho e apresentar os resultados do estudo sobre a identificação de sistemas a partir do modelo FSF - Frequency Sampling Filter. Em sistemas de controle, a identificação de sistemas e fundamental para o projeto dos controladores. Em muitos casos, não se tem informações suficientes sobre o sistema que se deseja controlar, seja por não se conhecer as propriedades físicas do sistema, ou pelo fato de se ter um modelo muito complexo. Nestas situações, a identificação de sistemas e uma ferramenta muito importante para o projetista de sistemas de controle. Diversas técnicas podem ser utilizadas no processo de identificação de sistemas, entre elas, a técnica baseada no modelo FSF - Frequency Sampling Filter. O modelo FSF e um modelo no domínio da frequência, composto por filtros de amostragem na frequência. Neste trabalho, serão apresentadas as características do modelo FSF e as principais vantagens da sua utilização no processo de identificação de sistemas. |
| Keywords: | Identificação de sistemas Frequency Sampling Filter Modelo FSF - Frequency Sampling Filter Sistemas de controle Módulo Peltier Processo de identificação de sistemas Filtro de amostragem na frequência – modelo FSF Systems identification Control system Peltier Module System identification process Frequency sampling filter - FSF model |
| ???metadata.dc.subject.cnpq???: | Engenharia Elétrica. |
| URI: | http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17205 |
| Appears in Collections: | Curso de Bacharelado em Engenharia Elétrica - CEEI - Monografias |
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| ISABELA SALES VIEIRA - TCC ENG. ELÉTRICA 2005.pdf | Isabela Sales Vieira - TCC ENG. ELÉTRICA 2005. | 3.62 MB | Adobe PDF | View/Open |
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