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http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17350
Title: | Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL. |
Other Titles: | Case study for the description of fault tolerance techniques in VHDL. |
???metadata.dc.creator???: | VASCONCELOS, Maí Correia Rabelo de. |
???metadata.dc.contributor.advisor1???: | TURNELL, Maria de Fátima Queiroz Vieira. |
Keywords: | Falha em VHDL;Nanoeletrônica;Tolerância à falha;Técnicas de tolerância a falha;Abordagem de mascaramentos de erros - TMR;Abordagem de detecção e correção de erros;Códigos de Hamming;Detecção e correção de erros - sistema elétrico;VHDL failure;Nanoelectronics;Fault tolerance;Fault tolerance techniques;Error masking approach - TMR;Error detection and correction approach;Hamming codes;Error detection and correction - electrical system |
Issue Date: | 10-Apr-2007 |
Publisher: | Universidade Federal de Campina Grande |
Citation: | VASCONCELOS, Maí Correia Rabelo de. Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL. 2007. f35. Curso de Bacharelado em Engenharia Elétrica, Centro de Engenharia Elétrica e Informática , Universidade Federal de Campina Grande – Paraíba Brasil, 2007. Disponível em:http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17350 |
???metadata.dc.description.resumo???: | Neste trabalho será apresentado um estado da arte das técnicas de tolerância a falha, principalmente os trabalhos que tiveram como motivação a questão dos defeitos/falhas ligados ao processo de escalonamento dos dispositivos CMOS e sera apresentado os resultados de um estudo de caso baseado na aplicação de arquiteturas tolerantes a falha de um sistema de aquisição de dados de um sensor de temperatura embarcado. Pode-se distinguir basicamente duas linhas de abordagem ao problema de falhas em circuitos: mascaramento de erros e detecção e correção de erros. Nos propomos aqui a implementar uma técnica de cada uma das linhas citadas, a TMR (Triple Modular Redundancy) dentro da proposta de mascaramento de erros e uso de códigos de Hamming na de detecção e correção de erros, para que sejam avaliadas as vantagens e desvantagens de cada método no contexto da aplicação escolhida. |
Keywords: | Falha em VHDL Nanoeletrônica Tolerância à falha Técnicas de tolerância a falha Abordagem de mascaramentos de erros - TMR Abordagem de detecção e correção de erros Códigos de Hamming Detecção e correção de erros - sistema elétrico VHDL failure Nanoelectronics Fault tolerance Fault tolerance techniques Error masking approach - TMR Error detection and correction approach Hamming codes Error detection and correction - electrical system |
???metadata.dc.subject.cnpq???: | Engenharia Elétrica. |
URI: | http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17350 |
Appears in Collections: | Curso de Bacharelado em Engenharia Elétrica - CEEI - Monografias |
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MAÍ CORREIA RABELO DE VASCONCELOS - TCC ENG. ELÉTRICA 2007.pdf | Maí Correia Rabelo de Vasconcelos - TCC Engenharia Elétrica 2007. | 1.74 MB | Adobe PDF | View/Open |
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