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Title: Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL.
Other Titles: Case study for the description of fault tolerance techniques in VHDL.
???metadata.dc.creator???: VASCONCELOS, Maí Correia Rabelo de.
???metadata.dc.contributor.advisor1???: TURNELL, Maria de Fátima Queiroz Vieira.
Keywords: Falha em VHDL;Nanoeletrônica;Tolerância à falha;Técnicas de tolerância a falha;Abordagem de mascaramentos de erros - TMR;Abordagem de detecção e correção de erros;Códigos de Hamming;Detecção e correção de erros - sistema elétrico;VHDL failure;Nanoelectronics;Fault tolerance;Fault tolerance techniques;Error masking approach - TMR;Error detection and correction approach;Hamming codes;Error detection and correction - electrical system
Issue Date: 10-Apr-2007
Publisher: Universidade Federal de Campina Grande
Citation: VASCONCELOS, Maí Correia Rabelo de. Estudo de caso para a descrição de técnicas de tolerância a falha em VHDL. 2007. f35. Curso de Bacharelado em Engenharia Elétrica, Centro de Engenharia Elétrica e Informática , Universidade Federal de Campina Grande – Paraíba Brasil, 2007. Disponível em:http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17350
???metadata.dc.description.resumo???: Neste trabalho será apresentado um estado da arte das técnicas de tolerância a falha, principalmente os trabalhos que tiveram como motivação a questão dos defeitos/falhas ligados ao processo de escalonamento dos dispositivos CMOS e sera apresentado os resultados de um estudo de caso baseado na aplicação de arquiteturas tolerantes a falha de um sistema de aquisição de dados de um sensor de temperatura embarcado. Pode-se distinguir basicamente duas linhas de abordagem ao problema de falhas em circuitos: mascaramento de erros e detecção e correção de erros. Nos propomos aqui a implementar uma técnica de cada uma das linhas citadas, a TMR (Triple Modular Redundancy) dentro da proposta de mascaramento de erros e uso de códigos de Hamming na de detecção e correção de erros, para que sejam avaliadas as vantagens e desvantagens de cada método no contexto da aplicação escolhida.
Keywords: Falha em VHDL
Nanoeletrônica
Tolerância à falha
Técnicas de tolerância a falha
Abordagem de mascaramentos de erros - TMR
Abordagem de detecção e correção de erros
Códigos de Hamming
Detecção e correção de erros - sistema elétrico
VHDL failure
Nanoelectronics
Fault tolerance
Fault tolerance techniques
Error masking approach - TMR
Error detection and correction approach
Hamming codes
Error detection and correction - electrical system
???metadata.dc.subject.cnpq???: Engenharia Elétrica.
URI: http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/17350
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