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  5. Curso de Bacharelado em Engenharia Elétrica - CEEI - Relatórios de Estágio
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dc.creator.IDSILVA, D. G. B. S.pt_BR
dc.creator.Latteshttp://lattes.cnpq.br/8424960816341044pt_BR
dc.contributor.advisor1MORAIS, Marcos Ricardo Alcântara.
dc.contributor.advisor1IDMORAIS, M. R. A.pt_BR
dc.contributor.advisor1Latteshttp://lattes.cnpq.br/6425114303423453pt_BR
dc.contributor.referee1SANTOS JÚNIOR, Gutemberg Gonçalves dos.
dc.contributor.referee1IDSANTOS JÚNIOR, G. G.pt_BR
dc.description.resumoEste trabalho apresenta as atividades realizadas durante o período de estágio, no Brazil Semiconductor Technology Center - BSTC, atuando na equipe de verificação de SoC. Em um ano de estágio, foram realizadas atividades na área de microeletrônica digital, atuando desde a fase de planejamento até a verificação de blocos funcionais. Sempre em conjuntos com a equipe de verificação foram desenvolvidos testes funcionais, scripts para automatização de testes e criação de VIPs, para auxilio na tarefa de debug de designs digitais.pt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.publisher.departmentCentro de Engenharia Elétrica e Informática - CEEIpt_BR
dc.publisher.initialsUFCGpt_BR
dc.subject.cnpqEngenharia Elétrica.pt_BR
dc.titleEstágio integrado na NXP semicondutores.pt_BR
dc.date.issued2019-12
dc.description.abstractThis work presents the activities developed during the internship program of Brazil Semiconductor Technology Center - BSTC, working witg the SoC verification team. In one year of internship, it was developed activities on digital the microeletronics area, from planning to fucntional blocks verfification. Together with the verfiication team it was developed functional tests, scripts to automate tests, and VIP creation, all to help in the debug of digital designs.pt_BR
dc.identifier.urihttp://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/20735
dc.date.accessioned2021-08-20T17:44:33Z
dc.date.available2021-08-20
dc.date.available2021-08-20T17:44:33Z
dc.typeTrabalho de Conclusão de Cursopt_BR
dc.subjectEstágio em Engenharia Elétricapt_BR
dc.subjectNXP Semicondutorespt_BR
dc.subjectBrazil Semiconductor Technology Center - BSTCpt_BR
dc.subjectVerificação de SoCpt_BR
dc.subjectVerificação de sistemas digitaispt_BR
dc.subjectMicroeletrônicapt_BR
dc.subjectSystem on chippt_BR
dc.subjectInternship in Electrical Engineeringpt_BR
dc.subjectNXP Semiconductorspt_BR
dc.subjectBrazil Semiconductor Technology Center - BSTCpt_BR
dc.subjectSoC Verificationpt_BR
dc.subjectDigital Systems Verificationpt_BR
dc.subjectMicroelectronicspt_BR
dc.subjectSystem on chippt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.creatorSILVA, Dimas Germano Brandão Soares.
dc.publisherUniversidade Federal de Campina Grandept_BR
dc.languageporpt_BR
dc.title.alternativeIntegrated stage in NXP semiconductors.pt_BR
dc.identifier.citationSILVA, Dimas Germano Brandão Soares. Estágio integrado na NXP semicondutores. 2019. 20f. (Relatório de Estágio Supervisionado) Curso de Bacharelado em Engenharia Elétrica, Centro de Engenharia Elétrica e Informática, Universidade Federal de Campina Grande - Paraíba - Brasil, 2019. Disponível em: http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/20735pt_BR
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