dc.creator.ID |
SILVA, V. M. L. |
pt_BR |
dc.creator.ID |
SILVA, VERONICA MARIA LIMA. |
pt_BR |
dc.creator.ID |
SILVA, VERONICA M. L. |
pt_BR |
dc.creator.Lattes |
http://lattes.cnpq.br/8036572249593151 |
pt_BR |
dc.contributor.advisor1 |
FREIRE, Raimundo Carlos Silvério. |
|
dc.contributor.advisor1ID |
FREIRE, R. C. S. |
pt_BR |
dc.contributor.advisor1ID |
Freire, R. C. S. |
pt_BR |
dc.contributor.advisor1ID |
FREIRE, R;Freire, R C S |
pt_BR |
dc.contributor.advisor1Lattes |
http://lattes.cnpq.br/4016576596215504 |
pt_BR |
dc.contributor.advisor2 |
SOUZA, Cleonilson Protásio. |
|
dc.contributor.advisor2ID |
SOUZA, C. P. |
pt_BR |
dc.contributor.advisor2ID |
DE SOUZA, C. P. |
pt_BR |
dc.contributor.advisor2ID |
DE SOUZA, Cleonilson Protásio. |
pt_BR |
dc.contributor.advisor2Lattes |
http://lattes.cnpq.br/5635983022553950 |
pt_BR |
dc.contributor.referee1 |
CATUNDA, Sebastian Yuri Cavalcanti. |
|
dc.contributor.referee1ID |
CATUNDA, S. Y. C. |
pt_BR |
dc.contributor.referee1ID |
Catunda, Sebastian Yuri Cavalcanti. |
pt_BR |
dc.contributor.referee1ID |
CATUNDA, SEBASTIAN Y.C. |
pt_BR |
dc.contributor.referee1Lattes |
http://lattes.cnpq.br/0873496251879638 |
pt_BR |
dc.contributor.referee2 |
LIMA, Robson Nunes de. |
|
dc.contributor.referee2ID |
LIMA, R. N. |
pt_BR |
dc.contributor.referee2ID |
Lima, Robson Nunes de. |
pt_BR |
dc.contributor.referee2ID |
DE LIMA, ROBSON N. |
pt_BR |
dc.contributor.referee2Lattes |
http://lattes.cnpq.br/1639120896080078 |
pt_BR |
dc.contributor.referee3 |
FONTGALLAND, Glauco. |
|
dc.contributor.referee3ID |
FONTGALLAND, G. |
pt_BR |
dc.contributor.referee3ID |
FONTGALLAND, GLAUCO. |
pt_BR |
dc.contributor.referee3ID |
Glauco Fontgalland. |
pt_BR |
dc.contributor.referee3Lattes |
http://lattes.cnpq.br/4256595317953538 |
pt_BR |
dc.contributor.referee4 |
GURJÂO, Edmar Candeia. |
|
dc.contributor.referee4ID |
GURJÃO, E. C. |
pt_BR |
dc.contributor.referee4ID |
Gurjao, Edmar C. |
pt_BR |
dc.contributor.referee4ID |
GURJÃO, E.C. |
pt_BR |
dc.contributor.referee4Lattes |
http://lattes.cnpq.br/9200464668550566 |
pt_BR |
dc.contributor.referee5 |
LUCIANO, Benedito Antônio. |
|
dc.contributor.referee5ID |
LUCIANO, B. A. |
pt_BR |
dc.contributor.referee5ID |
LUCIANO, BENEDITO ANTONIO. |
pt_BR |
dc.contributor.referee5ID |
LUCIANO, B.A. |
pt_BR |
dc.contributor.referee5Lattes |
http://lattes.cnpq.br/2390722791029216 |
pt_BR |
dc.description.resumo |
A etapa de teste de circuitos integrados é um estágio importante na fabricação e fundamental
na comercialização desses, pois nessa etapa são avaliados quais circuitos apresentam defeitos
e quais são considerados aptos a serem comercializados. Nos circuitos integrados mistos,
tais como os conversores analógico-digitais (ADC) que fazem a interface entre as partes
analógicas e digitais dos sistemas eletrônicos, o teste é realizado pela medição de parâmetros
como linearidade, ruído, entre outros. Para teste de ADC, existe o padrão IEEE 1241 que
estabelece métodos de teste e seus procedimentos de avaliação de parâmetros estáticos e
dinâmico de ADC. Um desses métodos é o método sine wave fit. Porém, existe um novo
tipo de conversor, Conversor Analógico-para-Informação (AIC), que ainda não possui
padrão de teste definido. O AIC implementa em termos práticos a Teoria da Amostragem
Compressiva e fornece uma saída digitalizada e comprimida (y) correspondente diretamente
ao sinal de entrada analógico (x). Um algoritmo de reconstrução, por sua vez, é necessário
para obter um sinal reconstruído xˆ que calcule x a partir de y. Este algoritmo, geralmente,
não faz parte do AIC em si e pode inclusive está distante do AIC interligado por um
canal de comunicação a esse. Nos trabalhos científicos que focam em teste de AIC, em
geral, o sinal reconstruído xˆ é avaliado para testar o próprio AIC e, em consequência, o
desempenho do algoritmo de reconstrução pode afetar o resultado do teste do AIC. Os
algoritmos de reconstrução implementam a resolução de um problema de otimização e são
bastante sensíveis aos parâmetros de entrada, portanto não é interessante que o resultado
do teste dependa desses algoritmos. Poucos trabalhos propõem métodos de teste que levam
em conta apenas a saída direta do AIC (y). No entanto, eles levam em consideração um
único sinal de teste (a senoide), que é um sinal de referência como descrito no padrão IEEE
1241 para testes de ADC. Nesta tese, dois novos métodos de teste para AIC são propostos,
nos quais apenas as saídas do AIC, isto é, as saídas comprimidas y, são levadas em conta.
No primeiro, aplicam-se sinais multi-tons (multi-senos) e, no segundo, foi desenvolvida
uma adaptação do método sine wave fit de quatro parâmetros, também recomendado
pelo Padrão IEEE 1241. Resultados experimentais e de simulação foram obtidos para
duas arquiteturas de AIC diferentes (Demodulador Aleatório – RD e Pré-Integrador de
Modulação Aleatória - RMPI) e a Relação Sinal-Ruído e Distorção (SINAD) de ambas foi
medida diretamente da saída do AIC confirmando a funcionalidade dos métodos de teste
AIC propostos. |
pt_BR |
dc.publisher.country |
Brasil |
pt_BR |
dc.publisher.department |
Centro de Engenharia Elétrica e Informática - CEEI |
pt_BR |
dc.publisher.program |
PÓS-GRADUAÇÃO EM ENGENHARIA ELÉTRICA |
pt_BR |
dc.publisher.initials |
UFCG |
pt_BR |
dc.subject.cnpq |
Engenharia Elétrica |
pt_BR |
dc.title |
Métodos de testes de conversores analógico para informação baseados no padrão IEEE 1241. |
pt_BR |
dc.date.issued |
2019-03-08 |
|
dc.description.abstract |
Integrated circuits testing is an important stage in the manufacture and fundamental in
the commercialization of these components, because in this stage are evaluated which
circuits have defects and which are able to be commercialized. In mixed integrated
circuits, such as analog-digital converters (ADC) that interface analog and digital parts
of electronic systems, the test is performed by measuring parameters such as linearity,
noise, among others. For ADC testing, there is the IEEE 1241 standard that establishes
test methods and their procedures for evaluating static and dynamic parameters of ADC.
One such method is the sine wave fit method. However, there is a new type of converter,
Analog-to-Information Converter (AIC), which does not yet have a defined test pattern.
The AIC implements the Compressive Sampling Theory in practical terms and provides a
digitized and compressed output (y) corresponding directly to the analog input signal (x).
A reconstruction algorithm is needed to obtain a reconstructed signal xˆ that computes x
from y. This algorithm is generally not part of the AIC itself and may even be distant from
the AIC interconnected by a communication channel to it. In scientific papers focusing on
AIC testing, in general, the reconstructed signal xˆ is evaluated to test the AIC itself and
as a consequence, the performance of the reconstruction algorithm may affect the result of
the AIC test. The reconstruction algorithms implement the solution of an optimization
problem and are quite sensitive to the input parameters, so it is not interesting that the
test result depends on these algorithms. Few papers propose test methods that consider
only the direct output of the AIC (y). However, they take into account a single test signal
(the sine), which is a reference signal as described in the IEEE 1241 standard for ADC
testing. In this thesis, two new test methods for AIC are proposed, in which only the
AIC outputs, that is, the compressed outputs y, are taken into account. In the first one,
multi-tones (multi-sines) are applied and, in the second, an adaptation of the sine wave fit
method of four parameters, also recommended by the IEEE Standard 1241, was developed.
Experimental and simulation results were obtained for two architectures of different AICs
(Random Demodulator - RD and Random Modulation Pre-Integrator - RMPI) and the
Signal to Noise and Distortion Ratio (SINAD) of both were measured directly from the
AIC output confirming the functionality of the proposed AIC test methods. |
pt_BR |
dc.identifier.uri |
http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/27121 |
|
dc.date.accessioned |
2022-09-13T14:19:27Z |
|
dc.date.available |
2022-09-13 |
|
dc.date.available |
2022-09-13T14:19:27Z |
|
dc.type |
Tese |
pt_BR |
dc.subject |
Conversor analógico para informação |
pt_BR |
dc.subject |
Amostragem compressiva |
pt_BR |
dc.subject |
Métodos de teste |
pt_BR |
dc.subject |
IEEE Std 1241 |
pt_BR |
dc.subject |
Analog to information converter |
pt_BR |
dc.subject |
Sampling compressive |
pt_BR |
dc.subject |
Test methods |
pt_BR |
dc.rights |
Acesso Aberto |
pt_BR |
dc.creator |
SILVA, Veronica Maria Lima. |
|
dc.publisher |
Universidade Federal de Campina Grande |
pt_BR |
dc.language |
por |
pt_BR |
dc.title.alternative |
Analog converter test methods for information based on the IEEE 1241 standard. |
pt_BR |
dc.identifier.citation |
SILVA, Veronica Maria Lima. Métodos de testes de conversores analógico para informação
baseados no padrão IEEE 1241. 2019. 77 fl. Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica), Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica, Centro de Engenharia Elétrica e Informática, Universidade Federal de Campina Grande - Paraíba - Brasil, 2019. |
pt_BR |