Metrologia da captura e reprodução de rastros de sistemas de arquivos.

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Campus Campina Grande | Centro de Engenharia Elétrica e Informática - CEEI
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PÓS-GRADUAÇÃO EM CIÊNCIA DA COMPUTAÇÃO
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Doutorado em Ciência da Computação.
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dc.creator.ID	PEREIRA, Thiago Emmanuel	pt_BR
dc.creator.Lattes	http://lattes.cnpq.br/3273998433544268	pt_BR
dc.contributor.advisor1	BRASILEIRO, Francisco Vilar.
dc.contributor.advisor1ID	BRASILEIRO, FRANCISCO V.	pt_BR
dc.contributor.advisor1Lattes	http://lattes.cnpq.br/5957855817378897	pt_BR
dc.description.resumo	Métodos para avaliação de desempenho têm, por por muitos anos, apoiado a adoção, desenvolvimento e operação de sistemas de arquivos. Em particular, a reprodução de rastros de utilização é um método bastante popular. Apesar de sua popularidade, alguns trabalhos produzidos recentemente contestam — embora sem comprovação empírica — a qualidade dos resultados obtidos com esse método. Em nossa opinião,este ceticismo se deve, em larga medida, à falta de métodos suﬁcientemente embasados para detectar e quantiﬁcar os erros das medições baseadas em reproduções de rastros. Uma vez que não sabemos como diagnosticar o problema, é provável que novos trabalhos adotem métodos de reprodução inadequados ou criem novos métodos sem preocupações metodológicas mais amplas. Em outras palavras, estamos fadados a repetir os erros anteriores ou introduzir novos erros. Nossa tese é que podemos usar metrologia — a ciência de obter boas estimativas para medições conduzidas por meio de instrumentos de medição imperfeitos — para melhorar a qualidade da avaliação de desempenho de sistemas de arquivos baseada em rastros. Neste documento, desenvolvemos esta tese por meio de duas provas de conceito. A primeira considera métodos de captura de rastros, enquanto a segunda considera métodos de reprodução de rastros. Em ambas, consideramos ferramentas populares descritas na literatura. Na primeira prova de conceito, ao aplicar o protocolo de metrologia, descobrimos fontes de erro que tornam as medições de captura de rastros bastante tendenciosas, embora precisas. Nós também mostramos como compensar as fontes de erro por meio de um processo de calibração — prática ausente na literatura. Ainda, descobrimos que os métodos de captura são sensíveis ao efeitos de cargas de fundo, as quais, quando não identiﬁcadas, podem comprometer o processo de calibração. Na segunda, o protocolo de metrologia também nos permitiu observar fontes de erros que enfraquecem a qualidade das medições de reprodução. Embora o procedimento de calibração não seja aplicável na segunda prova de conceito, nossos resultados apontaram limitações nas ferramentas de reprodução que quando reconsideradas, permitiram a melhoria na qualidade dos métodos considerados.	pt_BR
dc.publisher.country	Brasil	pt_BR
dc.publisher.department	Centro de Engenharia Elétrica e Informática - CEEI	pt_BR
dc.publisher.program	PÓS-GRADUAÇÃO EM CIÊNCIA DA COMPUTAÇÃO	pt_BR
dc.publisher.initials	UFCG	pt_BR
dc.subject.cnpq	Ciências	pt_BR
dc.subject.cnpq	Ciência da Computação	pt_BR
dc.title	Metrologia da captura e reprodução de rastros de sistemas de arquivos.	pt_BR
dc.date.issued	2016
dc.identifier.uri	http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/886
dc.date.accessioned	2018-06-05T15:36:39Z
dc.date.available	2018-06-05
dc.date.available	2018-06-05T15:36:39Z
dc.type	Tese	pt_BR
dc.subject	Ciência da Computação - Metrologia	pt_BR
dc.subject	Sistemas de Arquivos	pt_BR
dc.subject	Avaliação de Desempenho	pt_BR
dc.rights	Acesso Aberto	pt_BR
dc.creator	SILVA, Thiago Emmanuel Pereira da Cunha.
dc.publisher	Universidade Federal de Campina Grande	pt_BR
dc.language	por	pt_BR
dc.identifier.citation	SILVA, T. E. P. da C. Metrologia da captura e reprodução de rastros de sistemas de arquivos. 2016. 116 f. Tese (Doutorado em Ciência da Computação) – Programa de Pós-Graduação em Ciência da Computação, Centro de Engenharia Elétrica e Informática, Universidade Federal de Campina Grande, Paraíba, Brasil, 2016. Disponível em: http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/886	pt_BR